Обложка книги Основы математической метрологии, Цветков Эрик Иванович  
Поделись книгой!
 
Издательство: Политехника, 2005
Редактор: Козицкая М. И.
Переплёт: Твердый переплет, 510 страниц
Категория: Математические науки
ISBN: 5-7325-0793-0
Формат: 222x147x27 мм, 602 г

Где найти книгу?

📘 В монографии представлены основы теории математических моделей объектов, условий, процедур и средств измерений. Дан формализованный аппарат описания моделей объектов и процедур, свойств результатов и погрешностей результатов измерений. Представлено базовое алгоритмическое обеспечение метрологического анализа типовых процедур измерений.
Книга предназначена для метрологов и специалистов-измерителей, ориентирующихся на использование современных информационных технологий, преподавателей, аспирантов и студентов вузов соответствующих специальностей.
Мнения