Обложка книги Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей. Учебное пособие, Алхимов Анатолий Павлович, Батаев Владимир Андреевич, Батаев Анатолий Андреевич  
Поделись книгой!
 
Издательство: Флинта, 2007
Переплёт: Твердый переплет, 224 страницы
Категория: Машиностроение. Приборостроение
ISBN: 978-5-9765-0207-9
Формат: 208x149x14 мм, 322 г

Где найти книгу?

📕 В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгено-структурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов, качества изготовленных их них материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.
Для студентов, аспирантов и преподавателей технических вузов.
2-е издание.
Мнения