Name: Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках
Author: Вавилов В.С., Кив А.Е., Ниязова О.Р.
ISBN: МИВ 123/БН2-08062017/24

Добавить в "список"

Обложка книги Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках, Вавилов В.С., Кив А.Е., Ниязова О.Р.

Поделись книгой!

Автор: Вавилов В.С., Кив А.Е., Ниязова О.Р.

1981

Переплёт: Твердый переплет, 368 страниц

Категория: Книги

ISBN: МИВ 123/БН2-08062017/24

Где найти книгу?

📗 С содержанием книги вы можете ознакомиться на дополнительном изображении.

Мнения