Надежность элементов системы лазерной полупроводниковой накачки

📒 В книге приведены результаты экспериментальных исследований временных параметров энергии и спектра оптического импульса полупроводниковых линеек лазерных диодов и выполнена оценка деградационных свойств материалов и конструкций. Авторы уделяют внимание описанию принципов конструирования элементов полупроводниковой накачки, известным материалам и методикам определения надежности, применяемым для контроля качества современных диодных систем. Данное направление носит как фундаментальный, так и прикладной инженерный характер, и может быть рекомендовано научным работникам и инженерам, работающим в сфере исследования и производства лазерной, оптической и полупроводниковой техники.