Полевая ионная микроскопия. Полевая ионизация и полевое испарение.

📒 Монография отражает новейшие достижения полевой ионной (автоионной) микроскопии - единственной методики, обеспечивающей прямое наблюдение атомов поверхности твердого тела. Впервые подробно описан атомный зонд - прибор, позволяющий определять химическую природу и пространственное положение любого из атомов образца. Рассмотрены явления полевой ионизации, полевого испарения, лежащие в основе работы полевого ионного микроскопа и атомного зонда. Обсуждены научные приложения полевой ионной микроскопии и атомного зонда. Книга написана ведущими в мире специалистами по полевой ионной микроскопии: основателем этой методики профессором Э. Мюллером и профессором Т. Цонгом.
Издательство: Наука