Обложка книги Основы теории статистических измерений, Цветков Эрик Иванович  
Поделись книгой!
 
1986
Переплёт: Твердый переплет, 256 страниц
Категория: Букинистика
Тираж: 7260

Где найти книгу?

🔖 Рассмотрены основы теории измерений вероятностных характеристик случайных процессов. Представлены методы определения погрешностей и их характеристик. Приведены типовые структуры измерительных устройств. Первое издание вышло в 1979 г.

Книга рассчитана на специалистов, занимающихся исследованием свойств случайных процессов, разработкой методов и средств измерений вероятностных характеристик, а также синтезом методов и средств обработки полезных сигналов на фоне помех во всех областях информационной и управляющей техники.
Мнения