Основы сканирующей зондовой микроскопии

📓 Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур - от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов. Подробно описаны применяемые конструкции и схемные решения аппаратуры, особенности применения.

Для студентов и преподавателей физических, приборостроительных и материаловедческих специальностей.