Обложка книги Методы и аппаратура для анализа характеристик случайных процессов, А. Ф. Котюк, В. В. Ольшевский, Э. И. Цветков  
Поделись книгой!
 
Издательство: Энергия, 1967
240 страниц
Категория: Книги
ISBN: Unused-36747
Тираж: 8000

Где найти книгу?

📘 В книге излагаются вопросы изучения различных статистических характеристик случайных процессов, в том числе и нестационарных. Оценивается точность измерительных приборов и комплексов с позиций статистической теории. Обсуждаются методы изучения тонкой структуры случайных сигналов.

Книга предназначена для специалистов в области измерений и электро- и радиоинженеров различных профилей.
Мнения