Обложка книги Основы теории статистических измерений, Э. И. Цветков  
Поделись книгой!
 
Издательство: Энергия, 1979
Переплёт: Твердый переплет, суперобложка, 288 страниц
Категория: Научная литература
Тираж: 7000

Где найти книгу?

📗 Книга посвящена разработке новой теории измерений вероятностных характеристик случайных процессов. Построена система соотношений, определяющих результаты измерений и методические погрешности. Приведены типовые структуры измерительных устройств. Книга предназначена для специалистов, занимающихся исследованием свойств случайных процессов, разработкой методов и средств измерений вероятностных характеристик, а также синтезом методов и средств обработки полезных сигналов на фоне помех во всех областях информационной и управляющей техники.
Мнения