Термодинамические основы диагностики надежности микроэлектронных устройств

🔖 В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надежности микроэлектронных устройств. Разработаны термодинамические модели надежности. Сформулирована методология и рассмотрены термодинамические методы интегральной диагностики. Показаны возможности и способы управления качеством и надежностью. Разработана система термодинамических методов индивидуальной и групповой оценки, контроля, прогнозирования надежности широкого класса микроэлектронных устройств. Представлены типичные диагностические задачи и примеры практического применения термодинамических методов.

Для специалистов в области качества и надежности изделий микроэлектроники, радиоэлектроники и приборостроения.