Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем. Учебное пособие
Поделись книгой!
Автор: О. П. Глудкин,
В. Н. Черняев
Издательство: Энергия, 1980
Переплёт: Твердый переплет, 360 страниц
Категория: Букинистика
Тираж: 20000
Где найти книгу?
📗 Приведены сведения по основам теории контроля и испытания микроэлементов, микросхем и материалов. Описаны современная технология контроля параметров и испытания, а также испытательное оборудование и контрольно-измерительная аппаратура. Рассмотрены вопросы прогнозирования надежности. Предназначена в качестве учебного пособия для студентов вузов по специальностям 0604, 0629, 0648, 0705.
Мнения