Издательство: Academia, 2008
Переплёт: Твердый переплет, 400 страниц
Серия: Высшее профессиональное образование
ISBN: 9785769542275
Тираж: 2500
📓 Изложены основы квантовой механики, фрактальной геометрии и фрактальной физики, нелинейной динамики. Рассмотрены физические основы основных технологических процессов микро- и наноэлектроники: получение тонкопленочных структур, создание и перенос литографического изображения, методы модификации поверхностных и объемных структур, основы и методы контроля и метрологии.
Для студентов высших учебных заведений.